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    天津大学813半导体物理与器件2025年考研大纲变化信息
天津大学813半导体物理与器件2025年考研大纲变化信息
责任编辑:billlee  作者:佚名  来源:本站原创   更新时间:2024-10-12 14:14:36

天津大学813半导体物理与器件考研大纲2024年与2025年对比一览表

天津大学813半导体物理或电介质物理2025年考研大纲已经公布,但是考研的同学都清楚何如利用吗?考研大纲是目标院校唯一官方指定的硕士研究生入学考试命题的唯一依据,是规定研究生入学考试相应科目的考试范围、考试要求、考试形式、试卷结构等权威指导性文件。考研大纲作为唯一官方的政策指导性文件在专业课备考中的作用是不言而喻的。

然而,各大高校的考试大纲均在9月中旬左右才公布,对参照前一年的考研大纲已经复习大半年的莘莘学子来说可谓姗姗来迟。借此,我们天津考研网特别推出考研大纲的对比、变化情况的系列专题,及时反映相关的考研动态,以此来消除学子们的复习误区;使学子们尽早捕捉到官方的细微变化。为考研之路保驾护航!

 

天津大学813半导体物理与器件2024年大纲

天津大学813半导体物理或电介质物理2025年大纲

一、考试的总体要求

本课程为本专业主干专业基础课,要求考生掌握半导体物理的基本概念、二极管/双极型晶体管/场效应晶体管等器件的基本原理和应用。

二、考试的内容及比例

(一)考试内容要点:

第一部分:(50%

1、半导体能带结构、半导体有效质量、空穴、杂质能级;

2、热平衡状态下半导体载流子的统计分布,本征半导体和杂质半导体的载流子浓度,简并半导体和重掺杂效应;

3、半导体的导电性:载流子的漂移运动、迁移率、散射、强电场效应、热载流子的概念, 半导体电阻率与温度、杂质浓度的关系;

4、非平衡载流子:非平衡载流子的产生、复合、寿命、扩散长度、准费米能级,爱因斯坦关系,一维稳定扩散,光激发载流子衰减;

5p-n结:平衡与非平衡p-n结特点及其能带图,pn结理想和非理想I-V特性,p-n结电容概念与击穿机制,p-n结隧道效应、肖特基势垒二极管;

6、金属与半导体接触特点及其能带图,金属半导体接触整流理论,欧姆接触;

7MOS结构表面电场效应,理想与实际MOS结构C-V特性;

第二部分:(50%

1、双极晶体管的基本结构,工作原理,少子分布,低频电流增益和非理想效应;

2、双极晶体管的等效电路模型,频率特性和开关特性;

3MOSFET的基本结构,工作原理,关键参数,电流电压关系,击穿特性;

4MOSFET的小信号模型和频率特性;

5MOSFET的非理想效应;

6、结型场效应晶体管的结构和基本工作原理;

7、光器件与功率器件的原理、特点与应用。

(二)比例:

两部分考试内容各占50%

三、试卷题型及比例

1、填空与问答题:80%

2、计算与推导题:20%

四、考试形式及时间

考试形式均为笔试。考试时间为3小时(满分150)

五、参考书目

半导体物理学,(第七版),刘恩科、朱秉升、罗晋生编著,电子工业出版社。

半导体物理与器件,(第四版),赵毅强、姚素英等译,电子工业出版社。

晶体管原理与设计,陈星弼 张庆中等, 电子工业出版社。

一、考试的总体要求

本课程为本专业主干专业基础课,要求考生掌握半导体物理的基本概念、二极管/双极型晶体管/场效应晶体管等器件的基本原理和应用。

二、考试的内容及比例

(一)考试内容要点:

第一部分:(50%

1、半导体能带结构、半导体有效质量、空穴、杂质能级;

2、热平衡状态下半导体载流子的统计分布,本征半导体和杂质半导体的载流子浓度,简并半导体和重掺杂效应;

3、半导体的导电性:载流子的漂移运动、迁移率、散射、强电场效应、热载流子的概念, 半导体电阻率与温度、杂质浓度的关系;

4、非平衡载流子:非平衡载流子的产生、复合、寿命、扩散长度、准费米能级,爱因斯坦关系,一维稳定扩散,光激发载流子衰减;

5p-n结:平衡与非平衡p-n结特点及其能带图,pn结理想和非理想I-V特性,p-n结电容概念与击穿机制,p-n结隧道效应、肖特基势垒二极管;

6、金属与半导体接触特点及其能带图,金属半导体接触整流理论,欧姆接触;

7MOS结构表面电场效应,理想与实际MOS结构C-V特性;

第二部分:(50%

1、双极晶体管的基本结构,工作原理,少子分布,低频电流增益和非理想效应;

2、双极晶体管的等效电路模型,频率特性和开关特性;

3MOSFET的基本结构,工作原理,关键参数,电流电压关系,击穿特性;

4MOSFET的小信号模型和频率特性;

5MOSFET的非理想效应;

6、结型场效应晶体管的结构和基本工作原理;

7、光器件与功率器件的原理、特点与应用。

(二)比例:

两部分考试内容各占50%

三、试卷题型及比例

1、填空与问答题:80%

2、计算与推导题:20%

四、考试形式及时间

考试形式均为笔试。考试时间为3小时(满分150)

五、参考书目

半导体物理学,(第七版),刘恩科、朱秉升、罗晋生编著,电子工业出版社。

半导体物理与器件,(第四版),赵毅强、姚素英等译,电子工业出版社。

晶体管原理与设计,陈星弼 张庆中等, 电子工业出版社。

变化情况:无变化

 

 

以上是天津大学813半导体物理与器件2024年与2025年考研大纲的对比情况,从对比文件可以看出,天津大学813半导体物理与器件的考研大纲没有发生变化。所以,报考该校的研友们可以安心按照已定计划去复习备考

 

购买天津大学专业课考研资料请点击:http://www.52kaoyan.com/Shop/data/tianda/Index.html

 

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